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NF ZM2355 LCR测试仪

导航:https://www.yunhuangye.com/xinxifabu/10647     时间:2024年 08月 03日 10:25
NF ZM2355 LCR测试仪

特点

基本**度为0.1%、分辨率为4-1/2位数

测量的基本**度为0.1%,显示的分辨率为4-1/2位数字(19999),D、Q的*高分辨率为0.0001,θ的分辨率为0.01°。能为生产、检测、以及研究开发等领域提供可靠的测量精度。

测量频率范围宽阔

*高200kHz

在40Hz~200kHz的宽阔的频率范围内,可用2位数字或3位数字的分辨率来设定频率。

高速测量

*快25ms

测量时间分为FAST(快)、MED1(中1)、MED2(中2)、SLOW(慢)四档可以切换。若设定为FAST(快),就可用25ms的高速进行测量,所以可显著缩短大量电子元件的检查/分类所需的时间。

测量信号电平范围宽广

*大5Vrms

在10mVrms~5Vrms的宽广范围内,可用1mV或10mV的分辨率来设定信号电平,所以非常便于测量对信号电平有依存性的元件(半导体)等。

内置用于直流(DC)偏置的电源

*大2.5V

内置0mV~2.5V的用于直流(DC)偏置的电源(外置电源可达0V~±35V)。可以测量诸如电解电容器之类的极性电子元件和半导体的PN结电容。

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